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20256-6
安德信：高压加速老化试验箱技术方案

一、概述：高压加速老化试验箱是用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，多层线路板...

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